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EnglishStudy of Charge Diffusion in a Silicon Detector Using an Energy Sensitive Pixel Readout Chip / Schioppa, E. J.; Idarraga, J.; Van Beuzekom, M.; Visser, J.; Koffeman, E.; Heijne, E.; Engel, K. J.; Uher, J.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 1558-1578. - ELETTRONICO. - 62(2015), pp. 2349-2359.
| Titolo: | Study of Charge Diffusion in a Silicon Detector Using an Energy Sensitive Pixel Readout Chip |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2015 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11587/435736 |
| Appare nelle tipologie: | Articolo pubblicato su Rivista |
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