L. Varani, L. Reggiani, P. Houlet, J.C. Vaissiere,J.P. Nougier, T. Kuhn, T. Gonzales and D. Pardo "Hot-carrierfluctuations from ballistic to diffusive regime in submicronsemiconductor structures" Proc. 8th Int. Conf. on Hot Carriersin Semiconductors, Eds. J.F. Ryan and A.C. Maciel, Semiconductor Science Technol. {\bf 9}, 584-587 (1994).
REGGIANI, Lino;
1994-01-01
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