"DEFECTS IN AMORPHOUS SILICON PROBED BY SUBPICOSECOND PHOTOCARRIER DYNAMICS" Appl. Phys. Lett. 60, 1688 (1992).

CALCAGNILE, Lucio;
1992-01-01

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11587/328567
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact