Morphological and structural characterizations of CrSi2 nanometric films deposited by laser ablation.

Caricato, Anna Paola; Leggieri, Gilberto; Luches, Armando; Romano, F; Barucca, G; Mengucci, P; Mulenko, S. A.

doi:10.1016/j.apsusc.2007.09.26

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Morphological and structural characterizations of CrSi2 nanometric films deposited by laser ablation. / Caricato, Anna Paola; Leggieri, Gilberto; Luches, Armando; Romano, F; Barucca, G; Mengucci, P; Mulenko, S. A.. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - STAMPA. - 254(2007), pp. 1224-1227.

Titolo:	Morphological and structural characterizations of CrSi2 nanometric films deposited by laser ablation.
Autori:	CARICATO, Anna Paola LEGGIERI, Gilberto LUCHES, Armando ROMANO F BARUCCA G MENGUCCI P MULENKO S. A. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2007
Rivista:	APPLIED SURFACE SCIENCE
Handle:	http://hdl.handle.net/11587/111808
Appare nelle tipologie:	Articolo pubblicato su Rivista

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