Monolithic CMOS sensors are being proposed for the upgrade of the ATLAS inner tracker. Sensors fabricated in a new TowerJazz 180nm process, feature full depletion of the sensitive layer and radiation tolerance up to 1015neq/cm2.
Titolo: | Radiation Hardness Studies on a Novel CMOS Process for Depleted Monolithic Active Pixel Sensors |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2017 |
Abstract: | Monolithic CMOS sensors are being proposed for the upgrade of the ATLAS inner tracker. Sensors fabricated in a new TowerJazz 180nm process, feature full depletion of the sensitive layer and radiation tolerance up to 1015neq/cm2. |
Handle: | http://hdl.handle.net/11587/439320 |
ISBN: | 978-1-5386-1261-3 |
Appare nelle tipologie: | Relazione di atto di convegno in volume |
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