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Correlation functions and quantized noise in mesoscopic systems" Superlattices and microstructures
1992-01-01 T., Kuhn; Reggiani, Lino; L., Varani
Correlation functions of hot-electrons in semiconductors
1989-01-01 P., Lugli; Reggiani, Lino; J. J., Niez
Correlation functions of hot-electrons in semiconductors
2005-01-01 P., Lugli; Reggiani, Lino; J. J., Niez
Current and number fluctuations in submicron $n^+nn^+$ structures", Solid-State Electron.
1993-01-01 L., Varani; T., Kuhn; Reggiani, Lino; Y., Perles
Current instability and shot noise in nanometric semiconductor heterostructures
2000-01-01 V., Aleshkin; Reggiani, Lino; A., Reklaitis
Current Voltage Characteristics and Excess Noise at the Trap Filling Transition in Polyacenes
2018-01-01 Pousset, Jeremy; Alfinito, Eleonora; Carbone, Anna; Pennetta, Cecilia; Reggiani, Lino
Diffusion and fluctuations in a nonequilibrium electron gas with electron-electron collisions
1989-01-01 Reggiani, Lino; P., Lugli; S., Gantsevich; V., Gurevich; R., Katilius
Diffusion coefficient of electrons in silicon
1981-01-01 Brunetti, R.; Jacoboni, C.; F., Nava; Reggiani, Lino; G., Bosman; Zijlstra, R. J. J.
Diffusion coefficient of holes in Ge
1978-01-01 Reggiani, Lino; C., Canali; F., Nava; A., Alberigi Quaranta
Diffusion coefficient of holes in silicon by Monte Carlo simulation
1986-01-01 Reggiani, Lino; R., Brunetti; E., Normantas
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Correlation functions and quantized noise in mesoscopic systems" Superlattices and microstructures | 1-gen-1992 | T., Kuhn; Reggiani, Lino; L., Varani | |
Correlation functions of hot-electrons in semiconductors | 1-gen-1989 | P., Lugli; Reggiani, Lino; J. J., Niez | |
Correlation functions of hot-electrons in semiconductors | 1-gen-2005 | P., Lugli; Reggiani, Lino; J. J., Niez | |
Current and number fluctuations in submicron $n^+nn^+$ structures", Solid-State Electron. | 1-gen-1993 | L., Varani; T., Kuhn; Reggiani, Lino; Y., Perles | |
Current instability and shot noise in nanometric semiconductor heterostructures | 1-gen-2000 | V., Aleshkin; Reggiani, Lino; A., Reklaitis | |
Current Voltage Characteristics and Excess Noise at the Trap Filling Transition in Polyacenes | 1-gen-2018 | Pousset, Jeremy; Alfinito, Eleonora; Carbone, Anna; Pennetta, Cecilia; Reggiani, Lino | |
Diffusion and fluctuations in a nonequilibrium electron gas with electron-electron collisions | 1-gen-1989 | Reggiani, Lino; P., Lugli; S., Gantsevich; V., Gurevich; R., Katilius | |
Diffusion coefficient of electrons in silicon | 1-gen-1981 | Brunetti, R.; Jacoboni, C.; F., Nava; Reggiani, Lino; G., Bosman; Zijlstra, R. J. J. | |
Diffusion coefficient of holes in Ge | 1-gen-1978 | Reggiani, Lino; C., Canali; F., Nava; A., Alberigi Quaranta | |
Diffusion coefficient of holes in silicon by Monte Carlo simulation | 1-gen-1986 | Reggiani, Lino; R., Brunetti; E., Normantas |
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Data di pubblicazione
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- 2000 - 2009 91
- 1990 - 1999 91
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- 1970 - 1979 22
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