RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
"A fundamental time scale of collision duration
1999-01-01 Reggiani, Lino; E., Starikov; P., Shiktorov; V., Gruzinskis; L., Varani
"Electron drift velocity and relate phenomena in Si
1970-01-01 M., Costato; Reggiani, Lino
-Langevin-Equation analysis of hot-carrier transport in semiconductors
1992-01-01 T., Kuhn; Reggiani, Lino; L., Varani
`Injection statistics simulator for dynamic analysis of noise in mesoscopic devices'
1999-01-01 T., Gonzalez; J., Mateos; D., Pardo; L., Varani; Reggiani, Lino
`Upconversion of partition noise in semiconductors operating under periodic large-signal conditions''
2003-01-01 Shiktorov, P.; Starikov, E.; Gruzinskis, V.; Perez, S.; Gonzalez, T.; Reggiani, Lino; Varani, L.; Vaissiere, J. C.
A Biased percolation model for the analysis of electronic-device degradation.
1998-01-01 Z., Gingl; Pennetta, Cecilia; L. B., Kiss; Reggiani, Lino
A double s-type instability in semiconductor heterostructures"
1995-01-01 V., Gruzinskis; E., Starikov; P., Shiktorov; Reggiani, Lino; L., Varani
A double s-type instability in semiconductor heterostructures
1995-01-01 V., Gruzinskis; E., Starikov; P., Shiktorov; Reggiani, Lino; L., Varani
A macroscopic quantum Langevin equation
2004-01-01 P., Shiktorov; E., Starikov; Reggiani, Lino
A microscopic interpretation of hot-electron noise in Schottkybarrier diodes
1994-01-01 T., Gonzales; D., Pardo; L., Varani; Reggiani, Lino
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
"A fundamental time scale of collision duration | 1-gen-1999 | Reggiani, Lino; E., Starikov; P., Shiktorov; V., Gruzinskis; L., Varani | |
"Electron drift velocity and relate phenomena in Si | 1-gen-1970 | M., Costato; Reggiani, Lino | |
-Langevin-Equation analysis of hot-carrier transport in semiconductors | 1-gen-1992 | T., Kuhn; Reggiani, Lino; L., Varani | |
`Injection statistics simulator for dynamic analysis of noise in mesoscopic devices' | 1-gen-1999 | T., Gonzalez; J., Mateos; D., Pardo; L., Varani; Reggiani, Lino | |
`Upconversion of partition noise in semiconductors operating under periodic large-signal conditions'' | 1-gen-2003 | Shiktorov, P.; Starikov, E.; Gruzinskis, V.; Perez, S.; Gonzalez, T.; Reggiani, Lino; Varani, L.; Vaissiere, J. C. | |
A Biased percolation model for the analysis of electronic-device degradation. | 1-gen-1998 | Z., Gingl; Pennetta, Cecilia; L. B., Kiss; Reggiani, Lino | |
A double s-type instability in semiconductor heterostructures" | 1-gen-1995 | V., Gruzinskis; E., Starikov; P., Shiktorov; Reggiani, Lino; L., Varani | |
A double s-type instability in semiconductor heterostructures | 1-gen-1995 | V., Gruzinskis; E., Starikov; P., Shiktorov; Reggiani, Lino; L., Varani | |
A macroscopic quantum Langevin equation | 1-gen-2004 | P., Shiktorov; E., Starikov; Reggiani, Lino | |
A microscopic interpretation of hot-electron noise in Schottkybarrier diodes | 1-gen-1994 | T., Gonzales; D., Pardo; L., Varani; Reggiani, Lino |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 03 Articolo su Rivista 270
- 03 Articolo su Rivista::Articolo ... 270
Data di pubblicazione
- 2020 - 2024 4
- 2010 - 2019 31
- 2000 - 2009 91
- 1990 - 1999 91
- 1980 - 1989 28
- 1970 - 1979 22
- 1968 - 1969 3
Editore
- American Institute of Physics:2 H... 23
- IOP Publishing Limited:Dirac Hous... 8
- IEEE / Institute of Electrical an... 4
- Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 3
- Elsevier Science Limited:Oxford F... 2
- ATTUALE: Elsevier Science Limited... 1
- Bristol, United Kingdom: IOP Pub... 1
- Kluwer Academic. 1
- Philadelphia, PA : Taylor and Fra... 1
- pubblicata da: AMERICAN PHYSICAL ... 1
Rivista
- SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY 29
- JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 24
- APPLIED PHYSICS LETTERS 22
- PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MAT... 13
- PHYSICAL REVIEW LETTERS 11
- PHYSICAL REVIEW. X 11
- PHYSICA STATUS SOLIDI 10
- PHYSICAL REVIEW. B, RAPID COMMUNI... 9
- SOLID-STATE ELECTRONICS 8
- JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 7
Keyword
- Olfactory receptors 6
- Biosensors 3
- Impedance network 3
- proteotronics 3
- theoretical modelling 3
- Casimir force 2
- electrical noise 2
- Electrochemical impedance spectro... 2
- electrochemical impedance spectro... 2
- Electromigration 2
Lingua
- eng 236
- ita 2
- fre 1
- ger 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 269
- reserved 1