STRUCTURAL DEFECTS IN AMORPHOUS SILICON PROBED BY SUB-PICOSECOND PHOTOCARRIER DYNAMICS, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 205, 15 (1992).
CALCAGNILE, Lucio;
1992-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.