Characterization of GaN/AlN Films with Different Polarities Grown by Molecular Beam Epitaxy on Sapphire Substrates

	Anno
	
				2002
			
	ISBN
	
				0750308567
9780750308564
			
	Appare nelle tipologie:
	
				Capitolo di Libro

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11587/113114

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