FARELLA, ISABELLA

FARELLA, ISABELLA  

Dipartimento di Ingegneria dell'Innovazione  

Mostra records
Risultati 1 - 7 di 7 (tempo di esecuzione: 0.021 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Investigation of the Effects of Pulse-Atomic Force Nanolithography Parameters on 2.5D Nanostructures’ Morphology 1-gen-2022 Pellegrino, Paolo; Farella, Isabella; Cascione, Mariafrancesca; DE MATTEIS, Valeria; Bramanti, ALESSANDRO PAOLO; Della Torre, Antonio; Quaranta, Fabio; Rinaldi, Rosaria
NUMERICAL SIMULATION OF CSP BASED ON NANORECTENNA TECHNOLOGY 1-gen-2012 DE RISI, Arturo; Milanese, Marco; Mauro, Lomascolo; Taurino, Antonietta; Farella, Isabella
Pile-Ups Formation in AFM-Based Nanolithography: Morpho-Mechanical Characterization and Removal Strategies 1-gen-2022 Pellegrino, Paolo; Farella, Isabella; Cascione, Mariafrancesca; DE MATTEIS, Valeria; Bramanti, ALESSANDRO PAOLO; Vincenti, Lorenzo; Della Torre, Antonio; Quaranta, Fabio; Rinaldi, Rosaria
Pulse-Atomic Force Lithography: A Powerful Nanofabrication Technique to Fabricate Constant and Varying-Depth Nanostructures 1-gen-2022 Pellegrino, Paolo; Bramanti, ALESSANDRO PAOLO; Farella, Isabella; Cascione, Mariafrancesca; DE MATTEIS, Valeria; Della Torre, Antonio; Quaranta, Fabio; Rinaldi, Rosaria
Structural, morphological and chemical properties of Cu/TiN versus Cu thin layers for HEMT backside metallization 1-gen-2014 Taurino, Antonietta; Signore, MARIA ASSUNTA; M., Catalano; Farella, Isabella; F., Quaranta; DI GIULIO, Massimo; Vasanelli, Lorenzo; Siciliano, Pietro
Subgap Time of Flight as a defect spectroscopy: application to CdTe:Cl radiation detectors 1-gen-2016 Pousset, Jeremy; Farella, Isabella; Cola, A.; Gambino, Salvatore
Subgap time of flight: A spectroscopic study of deep levels in semi-insulating CdTe:Cl 1-gen-2016 Pousset, Jeremy; Farella, Isabella; Gambino, Salvatore; Cola, A.