Sfoglia per Rivista VLSI DESIGN
Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
A percolative approach to reliability of thin film interconnects and ultra thin dielectrics
2001-01-01 Pennetta, Cecilia; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; Cataldo, Rosella; DE NUNZIO, Giorgio
A Percolative Approach to Reliability of thin Film Interconnects and Ultra-Thin Dielectrics
2001-01-01 Pennetta, Cecilia; Reggiani, Lino; G., Trefan; Cataldo, Rosella; DE NUNZIO, Giorgio
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
A percolative approach to reliability of thin film interconnects and ultra thin dielectrics | 1-gen-2001 | Pennetta, Cecilia; L., Reggiani; Trefan, G. Y.; Cataldo, Rosella; DE NUNZIO, Giorgio | |
A Percolative Approach to Reliability of thin Film Interconnects and Ultra-Thin Dielectrics | 1-gen-2001 | Pennetta, Cecilia; Reggiani, Lino; G., Trefan; Cataldo, Rosella; DE NUNZIO, Giorgio |
Mostrati risultati da 1 a 2 di 2
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile